近紅外顯微分光測定儀

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現大範圍波長區域中的分光測定

近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大範圍波長的分光測定。

由於其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率,因此最適用於光學元件與微小的電子部件等產品。

 

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