從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現大範圍波長區域中的分光測定

近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大範圍波長的分光測定。

由於其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率,因此最適用於光學元件與微小的電子部件等產品。

 

鏡片反射率測定機 (USPM-RU III)

USPM-RU III 反射儀可精確測量當前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率、不會與樣本背面的反射光產生干涉。是最適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統。

特色:

USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發出的換代產品,是鏡片反射率測定儀的新機型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實現高速、高精度的分光測定。

應用:

  1. 消除背面反射光
  2. 測定時間短
  3. 可以測定高強度鍍膜的膜厚
  4. 可測定微小區域的反射率
  5. 支持XY色度圖、L*a*b*測定

 

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